日本SAN-EI 太陽光模擬器廣泛用于研究氣相及液相介質(zhì)、固定及流動(dòng)體系、光催化產(chǎn)氣、紫外光、單色光、可見光光照光催化劑等條件下的光化學(xué)反應(yīng)，具有提供分析反應(yīng)產(chǎn)物和自由基的樣品，測(cè)定反應(yīng)動(dòng)力學(xué)常數(shù)，測(cè)定量子產(chǎn)率等功能。

　　太陽光模擬器的分類有兩種，一種是全光譜模擬器，它與大氣質(zhì)量和/或帶通濾光片連用時(shí)能模擬各種太陽光譜。另一種是紫外太陽光模擬器，能匹配太陽光譜的紫外部分，幾乎不會(huì)產(chǎn)生可見光和紅外線。

　　那么太陽光模擬器性能好不好，產(chǎn)品好不好該從哪些方能來考慮衡量，下面我們來科普一番。

　　1、光譜匹配度

　　光譜匹配度的定義是模擬光分別在400-500nm、500-600nm、600-700nm、700-800nm、800-900nm和900-1100nm這6個(gè)光譜范圍內(nèi)與真實(shí)太陽光的匹配程度，用百分比來表示。根據(jù)數(shù)據(jù)的偏離情況對(duì)模擬器匹配程度的等級(jí)進(jìn)行劃分。

　　2、輻照時(shí)間不穩(wěn)定性

　　輻照穩(wěn)定性是標(biāo)準(zhǔn)的第三項(xiàng)性能參數(shù)指標(biāo)，它要求日本SAN-EI 太陽光模擬器的輸出光束長時(shí)間保持穩(wěn)定的照度以確保太陽能電池效率測(cè)定的性。對(duì)于輻照不穩(wěn)定性，還細(xì)分為長期不穩(wěn)定性（LTI）和短期不穩(wěn)定性（STI），分別對(duì)應(yīng)整個(gè)IV測(cè)試過程中輻照度的變化和取點(diǎn)過程中輻照度的變化。

　　3、輻照空間不均勻性

　　在測(cè)試區(qū)域的輻照度應(yīng)達(dá)到一定的均勻度要求。計(jì)算方法為：不均勻度=（大輻照度-小輻照度）/（大輻照度+小輻照度）×100%。

　　光照均勻性是難達(dá)到和保持的一項(xiàng)指標(biāo)，工作面積上的強(qiáng)光點(diǎn)會(huì)導(dǎo)致被測(cè)電池效率產(chǎn)生嚴(yán)重誤差，并導(dǎo)致電池分級(jí)錯(cuò)誤。均勻度日本SAN-EI 太陽光模擬器就能將這種強(qiáng)光點(diǎn)對(duì)產(chǎn)品的影響降到低，其空間均勻性嚴(yán)格控制于≤2%。