日本SAN-EI太陽光模擬器作為光源，在某種意義上說，可以等同于太陽光源，可以模擬太陽光照射。太陽模擬器廣泛應(yīng)用于太陽能電池特性測試，光電材料特性測試，生物化學(xué)相關(guān)測試，光學(xué)催化降解加速研究，皮膚化妝用品檢測，環(huán)境研究等。
判定日本SAN-EI 太陽光模擬器光源質(zhì)量的三個重要指標(biāo)。
1. 光譜匹配度
光譜匹配度的定義是模擬光分別在400-500nm、500-600nm、600-700nm、700-800nm、800-900nm和900-1100nm這6個光譜范圍內(nèi)與真實太陽光的匹配程度，用百分比來表示。根據(jù)數(shù)據(jù)的偏離情況對模擬器匹配程度的等級進行劃分。
2. 輻照空間不均勻性
在測試區(qū)域的輻照度應(yīng)達到一定的均勻度要求。計算方法為：不均勻度=（大輻照度-小輻照度）/（大輻照度+小輻照度）×100%。
光照均勻性是難達到和保持的一項指標(biāo)，工作面積上的強光點會導(dǎo)致被測電池效率產(chǎn)生嚴重誤差，并導(dǎo)致電池分級錯誤。均勻度*的模擬器就能將這種強光點對產(chǎn)品的影響降到低，其空間均勻性嚴格控制于≤2%。
3. 輻照時間不穩(wěn)定性
輻照穩(wěn)定性是AA*標(biāo)準(zhǔn)的第三項性能參數(shù)指標(biāo)，它要求模擬器的輸出光束長時間保持穩(wěn)定的照度以確保太陽能電池效率測定的精確性。對于輻照不穩(wěn)定性，還細分為長期不穩(wěn)定性（LTI）和短期不穩(wěn)定性（STI），分別對應(yīng)整個IV測試過程中輻照度的變化和取點過程中輻照度的變化。
